NAND Flash有抹寫循環 (P/E Cycles)的次數限制，若block的抹寫循環次數達到最大值時，該block便無法使用；若過度集中寫入或抹除單一特定block，會快速消耗這些block的抹寫循環次數，導致NAND Flash提早損壞。

Wear-Leveling平均耗損技術的原理是讓所有單位擁有平均的寫入次數，避免針對單一特定block持續進行抹寫循環。Flash控制器會透過Wear-Leveling演算法決定資料要被寫入哪個physical block實體區塊，尤其針對工控系統領域可以提升可靠度和儲存裝置的壽命。